近年來(lái)，隨著人們消費(fèi)意識(shí)的不斷提升，人們對(duì)珠寶首飾的質(zhì)量及真假越來(lái)越重視，然而社會(huì)上“假珠寶"、“假黃金"等不良現(xiàn)象時(shí)常發(fā)生，使珠寶首飾商家與消費(fèi)者之間的信任危機(jī)越來(lái)越突出，珠寶首飾的檢測(cè)鑒定也越來(lái)越受到商家及消費(fèi)者的關(guān)注。西凡科技積極響應(yīng)市場(chǎng)需求，結(jié)合多年的貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，自主研發(fā)生產(chǎn)出了一系列X射線熒光光譜檢測(cè)儀，可以幫助珠寶首飾商家規(guī)避交易風(fēng)險(xiǎn)，提升自身競(jìng)爭(zhēng)力和社會(huì)形象，從而帶來(lái)更多的營(yíng)業(yè)收入。
　　解決方案
　　zuijia的金銀首飾無(wú)損檢測(cè)方法
　　在貴金屬檢測(cè)領(lǐng)域，傳統(tǒng)的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測(cè)，具有消耗性和危險(xiǎn)性，且樣品的制備過(guò)程耗時(shí)更長(zhǎng)。而X射線熒光光譜法的技術(shù)相對(duì)成熟，可以達(dá)到即時(shí)分析,無(wú)損檢測(cè),不需要任何耗材,并且檢測(cè)精度可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后四位數(shù)，是我國(guó)普及型貴金屬檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展方向。
　　X射線熒光光譜法（XRF）的工作原理是利用X射線激發(fā)被測(cè)物體表面,使得其表面原子發(fā)生能級(jí)躍遷,利用探測(cè)器接收到X射線,然后通過(guò)能譜圖對(duì)比分析出元素成份。
　　貴金屬檢測(cè)儀性能特點(diǎn):
　　無(wú)損：無(wú)損檢測(cè)，不需要任何耗材
　　：美國(guó)進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器，對(duì)所有元素均能檢測(cè)
　　便捷：集成工業(yè)計(jì)算機(jī)，雙觸摸屏顯示設(shè)計(jì)，操作流暢便捷
　　快速：3秒內(nèi)可對(duì)樣品定性識(shí)別，60秒內(nèi)可得出測(cè)試結(jié)果
　　直觀：高清晰圖形即時(shí)顯示，檢測(cè)結(jié)果直觀明了
　　安全：加裝防輻射裝置，主動(dòng)保護(hù)操作人員安全